局部放電測(cè)試儀使用方法附則

1、放電類型和放電源的辨認(rèn)

　　先介紹一下示波屏上的橢圓軌跡，它是順時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)，正零標(biāo)脈沖表示試驗(yàn)電壓開始由負(fù)變向正極性;負(fù)零標(biāo)脈沖則與之相反，兩零標(biāo)間的中點(diǎn)為試驗(yàn)電壓的正、負(fù)峰值部位。

　　從橢圓上的放電圖形辯認(rèn)放電類型以及識(shí)別各種干擾是一門技術(shù)性很強(qiáng)并需有豐富實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的學(xué)問(最好再結(jié)合其他方法予以確認(rèn))。CIGRE(國際大電網(wǎng)會(huì)議)也為須此專門編了放電圖形識(shí)譜的小冊(cè)子，它是根據(jù)放電圖形中放電位置、移動(dòng)與否，正負(fù)半周的放電幅值一致程度以及放電幅值隨試驗(yàn)電壓及加壓時(shí)間的變化特征來判斷的，這里只能粗略加以介紹。

　　一般來說來，視為真正的內(nèi)部氣泡形成的局部放電，其主要特征是放電大多產(chǎn)生在靠近試驗(yàn)電壓峰值前上升部位的兩半周內(nèi)。

　　(1)典型的內(nèi)部氣泡局部放電(見圖5)，波形特征：a放電主要顯示在試驗(yàn)電壓由零升到峰值的兩個(gè)橢圓相限內(nèi)。B在起始電壓 Ui時(shí)放電通常發(fā)生在峰值附近，試驗(yàn)電壓超過 Ui時(shí)，放電向零位延伸。C兩個(gè)相反半周上放電次數(shù)和幅值大致相同(最大相差至3：1)。D放電波形可分辨。這里又有幾種情況：1)如果放電幅值隨試驗(yàn)電壓上升而增大，并且放電波形變得模糊不可分辨，則往往是介質(zhì)內(nèi)含有多種大小氣泡，或是介質(zhì)表面放電;2)如果除了上述情況，而且放電幅值隨加壓時(shí)間而迅速增長(可達(dá)100倍或更多)，則往往是絕緣液體中的氣泡放電，典型例子是油浸紙電容器的放電。　　

圖 5

　　(2)局部放電測(cè)試儀金屬與介質(zhì)間氣泡的放電(見圖6 a)，波形特征：正半周有很多幅值小的放電，負(fù)半周有少數(shù)幅值大的放電，幅值相差可達(dá)10：1。其它同上，典型例子是絕緣與導(dǎo)體粘附不佳的聚乙烯電纜放電。如果隨試驗(yàn)電壓升高，放電幅值也增大，而且放電波形變得模糊，則往往中含有不同大小多個(gè)氣泡，或者是外露的金屬與介質(zhì)表面之間出現(xiàn)的放電(見圖6 b)。　　

圖6 a                                             圖6 b

　　下面討論一些主要視之為干擾或非正常放電的情況。

　　(3)局部放電測(cè)試儀懸浮電位物體放電(見圖7 a)，波形特征：在電壓峰值前的正負(fù)半周兩個(gè)象限里出現(xiàn)，幅值、脈沖數(shù)和位置均相同，有時(shí)(如圖7 b所示)成對(duì)出現(xiàn)，放電可移動(dòng)，但它們間的相互間隔不變，電壓升高時(shí)，根數(shù)增加，間隔縮小，但幅值不變，有時(shí)電壓升到一定值時(shí)會(huì)消失，但降至此值又重新出現(xiàn)。原因：金屬間的間隙產(chǎn)生的放電，間隙可能是地面上兩個(gè)獨(dú)立的金屬體間也可能在樣品內(nèi)，例如屏蔽松散?！　?/p>

圖7 a                                                   圖7 b

　　(4)局部放電測(cè)試儀外部尖電暈(見圖8 a)，波形特征：起始放電僅出現(xiàn)在試驗(yàn)電壓的一個(gè)半周上，并對(duì)稱地分布峰值兩側(cè)。試驗(yàn)電壓升高時(shí)，放電脈沖數(shù)急劇增加，但幅值不變，并向兩側(cè)伸展(如圖8 b所示)。原因：空氣中高壓尖或邊緣放電。如果放電出現(xiàn)在負(fù)半周，表示尖處于高壓，如放電出現(xiàn)在正半周則表示尖處于地電位?！　?/p>

圖8 a                                                圖8 b

　　(5)液體介質(zhì)中的尖電暈(圖9 a)，波形特征：放電出現(xiàn)在兩個(gè)半周上，對(duì)稱地分布在電壓峰值兩則。每一組放電均為等間隔，但一組幅值較大的放電先出現(xiàn)，隨試驗(yàn)電壓升高而幅度增大，不一定等幅值：一組幅值小的放電幅值相等，并且不隨電壓變化(如圖9 b所示)。原因：絕緣液體中尖或邊緣放電，如一組大的放電出現(xiàn)在正半周，則尖處于高壓;如它出現(xiàn)在負(fù)半周，則尖處于地電位?！　?/p>

圖9 a                                                      圖9 b

　　(6)接觸不良(圖10)，波形特征：對(duì)稱分布在試驗(yàn)電壓零點(diǎn)兩側(cè)，幅值大致不變，但在試驗(yàn)電壓峰值附近下降為零，波形粗糙不清晰。低電壓下即出現(xiàn)，電壓增大時(shí)，幅值緩慢增加，有時(shí)在電壓達(dá)到一定值后全消失。原因：試驗(yàn)電路中金屬與金屬不良接觸的連接點(diǎn);塑料電纜屏蔽層半導(dǎo)體粒子的不良接觸;電容器鋁箔的插接片等(可將電容器充電然后短路來消除)。

圖10

　　(7)局部放電測(cè)試儀可控硅元件(圖11 a)，波形特征：位置固定，每只元件產(chǎn)生一個(gè)獨(dú)立訊號(hào)。電路接通，電磁耦合效應(yīng)增強(qiáng)時(shí)，訊號(hào)幅值增加。試驗(yàn)調(diào)壓時(shí)，該脈沖訊號(hào)會(huì)產(chǎn)生高頻波形展寬，從而占位增加(圖11 b)，原因：鄰近有可控硅元件在運(yùn)行?！　?/p>

圖11 a                                                     圖11 b

　　(8)局部放電測(cè)試儀繼電器、接觸器、輝光管等動(dòng)作(圖12)，波形特征：波形不規(guī)則或間斷出現(xiàn)， 同試驗(yàn)電壓無關(guān)。原因：熱繼電器、接觸器和各種火花試驗(yàn)器及有火花放電的記錄器動(dòng)作時(shí)產(chǎn)生。

圖 12

　　(9)局部放電測(cè)試儀異步電機(jī)(圖13)，波形特征：正負(fù)半周出現(xiàn)對(duì)稱的兩簇訊號(hào)，沿橢園時(shí)基逆向以不變的速度旋轉(zhuǎn)。原因：異步電機(jī)運(yùn)行訊號(hào)耦合到檢測(cè)電路中了。

圖13